粒子線応用構造解析 | (3年後期) |
Corpuscular Beam Applied Structural Analysis | 単位数:2 |
担当:稲見隆 | コード:T8232 |
概要 材料の特性評価において、微細構造の解明は必要不可欠である。最も一般的な手法としてのX線回折法を理解し、構造解析の基礎を修得する。また、電子線、中性子線等を用いたミクロ的解析法について理解する。キーワード 結晶構造、微細組織、表面・界面、構造解析、X線回折、電子顕微鏡(SEM,TEM)、中性子回折到達目標 X線、電子線、中性子線等を用いた材料の微細構造および組織の解析法について、基本的な考え方およびその原理を理解し、適用法および解析結果について検討できる。授業計画
- ガイダンスおよびBraggの法則
- 結晶学の基礎1 結晶系とその構造、格子面および方向、晶帯
- 結晶学の基礎2 ステレオ投影、逆格子
- X線回折
- まとめ、小テスト1
- 構造解析の基礎1 Laue法
- 構造解析の基礎2 粉末試料の回折パターンの解析、構造因子
- 構造解析の基礎3 波形解析
- まとめ、小テスト2
- 電子顕微鏡1 概要とSEM
- 電子顕微鏡2 EPMA
- 電子顕微鏡3 TEMと電子線回折
- 中性子回折、プローブ顕微鏡
- まとめ
- 期末試験
履修上の注意 結晶学についての基礎知識を理解していることが望ましい。講義内容の理解には,与えられた課題等について自分なりに結果を出してみるなど,復習が特に大切です。成績の評価方法 小テストおよび期末試験の成績、課題についてのレポートを総合して評価する。
(およその比率:期末試験60%、小テスト20%、レポート20%)教科書・参考書 特定の教科書は使用せず、項目ごとに資料を配布する。参考書:
- 「X線回折要論」、カリティ著(松村源太郎訳)、アグネ
- 「X線構造解析」、早稲田嘉夫・松原英一郎著、内田老鶴圃
- 「結晶電子顕微鏡学」、坂公恭著、内田老鶴圃