茨城大学工学部マテリアル工学科 平成20年度シラバス 戻る

粒子線応用構造解析(3年後期)
Corpuscular Beam Applied Structural Analysis単位数:2
担当:稲見隆コード:T8232

概要
材料の特性評価において、微細構造の解明は必要不可欠である。最も一般的な手法としてのX線回折法を理解し、構造解析の基礎を修得する。また、電子線、中性子線等を用いたミクロ的解析法について理解する。

●JABEE関連科目:材料学総論表面・界面工学ナノマテリアル工学マテリアル実験Ⅱ

キーワード
結晶構造、微細組織、表面・界面、構造解析、X線回折、電子顕微鏡(SEM,TEM)、中性子回折
到達目標
X線、電子線、中性子線等を用いた材料の微細構造および組織の解析法について、基本的な考え方およびその原理を理解し、適用法および解析結果について検討できる。

●JABEE対応:D-1.マテリアルの構造・性質に関する基本の理解100%、JABEE目標:◎D、○G

授業計画
  1. ガイダンスおよびBraggの法則
  2. 結晶学の基礎1 結晶系とその構造、格子面および方向、晶帯
  3. 結晶学の基礎2 ステレオ投影、逆格子
  4. X線回折
  5. まとめ、小テスト1
  6. 構造解析の基礎1 Laue法
  7. 構造解析の基礎2 粉末試料の回折パターンの解析、構造因子
  8. 構造解析の基礎3 波形解析
  9. まとめ、小テスト2
  10. 電子顕微鏡1 概要とSEM
  11. 電子顕微鏡2 EPMA
  12. 電子顕微鏡3 TEMと電子線回折
  13. 中性子回折、プローブ顕微鏡
  14. まとめ
  15. 期末試験
履修上の注意
結晶学についての基礎知識を理解していることが望ましい。講義内容の理解には,与えられた課題等について自分なりに結果を出してみるなど,復習が特に大切です。
成績の評価方法
小テストおよび期末試験の成績、課題についてのレポートを総合して評価する。
(およその比率:期末試験60%、小テスト20%、レポート20%)
教科書・参考書
特定の教科書は使用せず、項目ごとに資料を配布する。

参考書:

  • 「X線回折要論」、カリティ著(松村源太郎訳)、アグネ
  • 「X線構造解析」、早稲田嘉夫・松原英一郎著、内田老鶴圃
  • 「結晶電子顕微鏡学」、坂公恭著、内田老鶴圃

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